项目名称:上海微系统所-大量程硅薄膜厚度测量系统项目编号:****-************/**大量程硅薄膜厚度测量系统招标机构:上海机电设备招标有限公司业主:中国科学院上海微系统与信息技术研究所开标时间:****-**-****:**:**.*评标结果公示状态:无投诉最终中标人:岱美有限公司制造商:美商菲乐有限公司制造商国家及地区:美国
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“销邦招标”