| 半导体特性分析仪 | 1 | | 不限 | 不限 | 否 | 按行业标准提供服务 | 主机1台、中功率测量单元3个、前置放大器3个、脉冲I-V单元1个、脉冲放大单元2个技术要求如下：1）*最大电压源输出： * V；2）*电压源设定最小分辨率：5μV；3）最大电流输出： * mA；4）电流源设定最小分辨率：1.5fA；5）*电压测量范围：1μV- * V；6）电流测量范围：0- * mA；7）电流测量最小分辨率：0. * fA；8）*电流测量精度： * fA；9）*系统脉冲发生器频率： * MHz-1Hz * ）*系统最小脉冲宽度： * n * ）*最大脉冲电压： * Vp-p * ）*电流测量量程包括 * mA, * mA, * mA,1mA, * μA, * μA,1μA, * nA * ）*系统扩展性：半导体特性分析系统后面板具有不少于9个基于PCI总线的插槽，用于插 (略) 件—SMU，插槽的设计采用竖型插入方式，这样可以最 (略) 系统散热。 * ）半导体特性分析系统主机具备计算机配置：CPU主频＞2GHz，硬盘容量＞ * GB,带刻录CD驱动器，4个以上USB接口，内置 * /1 (略) 络接口， * 英寸以上液晶显示器，windows7操作系统，可以外接显示器； * ). *具有KITE分析软件。它提供了 * 多种标准特性分析测试库，包括MOSFET、BJT 晶体管、 * 极管、电阻器、电容器、太阳能电池、碳纳米管和NVM 存储器技术，如闪存、PRAM，PCRAM、等等。 (略) 业标准电子表格格式存储。KITE完善的、可以随时生成报告的图示工具可以为任何测得的或计算的数据绘制图表。 | 无 |
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