全反射X射线荧光分析仪招标变更

澄清或变更简要说明： (略) 时间变更
(略) (略) ，于 *** - (略) 。 (略) 方式，现邀请合格投标人参加投标。
1、招标条件
项目概况:新建12 (略) 生产线FAB1生产线
资金到位或资金来源落实情况:项目资金已到位
(略) 条件的说明:已具备招标条件
2、招标内容
招标项目编号: *** JHICC001/68
招标项目名称: (略) 省 (略) 存储器生产线建设项目
项目实施地点:中国 (略) 省
招标产品列表(主要设备):

序号	产品名称	数量	简要技术规格	备注
*** JHICC001/15	12吋高阶无图形晶圆微粒缺陷检测机、12吋无图形晶圆微粒缺陷检测机	3台/2台	本设备主要用于高阶无图形晶圆微粒缺陷检测机、本设备主要用于图形晶圆微粒缺陷检测机	RMB:20000 OR USD 3400
*** JHICC001/16	12吋晶圆边缘检测机	1台	本设备主要用于12吋晶圆边缘检测机	RMB:5000 OR USD 850
*** JHICC001/18	(略) 膜厚量测机台(厚膜)	5台	本设备主要用于 (略) 膜厚量测机台(厚膜)	CNY10000 / USD1650
*** JHICC001/19	(略) 膜厚量测机台(薄膜)	3台	本设备主要用于 (略) 膜厚量测机台(薄膜)	CNY15000 / USD2500
*** JHICC001/21	12英吋X射线光电子能谱仪量测机台	1台	本设备主要用于12英吋X射线光电子能谱仪量测机台	CNY5000 / USD850
*** JHICC001/22	1 (略) 图形缺陷检测机、1 (略) 微粒图形缺陷检测机	1台/1台	本设备主要 (略) 图形缺陷检测机、本设备主要 (略) 微粒图形缺陷检测机	RMB:20000 OR USD 3400
*** JHICC001/23	(略) 黄光堆栈量测机	5台	本设备主要 (略) 黄光堆栈量测机	RMB:15000 OR USD 2500
*** JHICC001/24	12吋晶圆应力及相位差量测系统	1台	本设备主要用于12吋晶圆应力及相位差量测系统	CNY5000 / USD850
*** JHICC001/68	全反射X射线荧光分析仪	1	本项目用于全反射X射线荧光分析仪(TXRF)	CNY1000/USD165
*** JHICC001/69	12英吋整合于化学机械研磨机的厚度量测机台	4	该设备符合 (略) 工艺使用,可针对控 (略) 化学机械研磨后的厚度项目的非接触式量测, 避免破坏产品并确认注入工艺的质量, 以达到芯片出产后的要求及其可靠度。系统要求设计合理并采用先进科技以保证其拥 (略) 品质。控制系 (略) 组件应具备高精度、高可靠性和反应迅速的特点。系统应使用、操作、维修方便，造型美观，结构紧凑，表现稳定，售后服务优良。	CNY5000/USD850

3、投标人资格要求
投标人应具备的资格或业绩: (略) 、 (略) 文件且满足文件中要求，并参加投标竞争的法人或其他组织。凡是来自中华人民共和国或是与中华人民共和国有正常贸易往来的国家或地区的法人或其他组织均可投标。
是否接受联合体投标:不接受
未领购招标文件是否可以参加投标:不可以
4、招标文件的获取
招标文件领购开始时间: ***
招标文件领购结束时间: ***
是否在线售卖标书:否
获取招标文件方式:现场领购
招标文件领购地点：中 (略) , (略) 市 (略) 区 (略) 路1 (略) A座新中电大厦21 (略)
招标文件售价:￥20000/$3400
其他说明:招标文件领购具体时间：上午9：00～11：30，下午13：00～16：30（ (略) 时间）（节假日除外）。 (略) (略) http:/ *** 进行招标文件的购买和下载。
5、投标文件的递交
投标截止时间（开标时间）: *** 10:00
投标文件送达地点:中 (略) ， (略) 市 (略) 区 (略) 路1 (略) A座新中电大厦19层
开标地点:中 (略) ， (略) 市 (略) 区 (略) 路1 (略) A座新中电大厦19层
6、投标人在投标前需在上完成注册。评标结果将在公示。
7、联系方式
招标人: (略) 省 (略)
地址: (略) 省 (略) 市 (略) 市集成电路科学园联华大道88号
联系人:林先生
联系方式: ***
招标代理机构:中 (略)
地址: (略) 市 (略) 区 (略) 路1 (略) A座新中电大厦
联系人:高攀、马文强、赵天舒
联系方式:+86- *** ，+86- ***
8、汇款方式:
招标代理 (略) (人民币):
招标代理 (略) (美元):
账号(人民币):
账号(美元):