序号 | 货物名称 | 招标技术要求 |
1 | 紫外可见光谱仪 | ▲1.1 探测器:GEM3(薄型背照式FFT-CCD)CCD带TEC * 级制冷:可达- * ℃; |
1.2 有效检测围: *** nm |
▲1.3 信噪比: * :1 ( (略) (略) 截图及链接证明,否则视为负偏离) |
1.4暗噪音RMS<3; |
1.5 光源:内置氘卤钨组合平衡双紫外光源 ; |
1.6 采样方式:积分球和探头两种方式; |
1.7 单次扫描时间< * 毫秒; |
1.8 重复性> * %; |
1.9 可有效地对金珍珠、黑珍珠、钻石(天然、 (略) 理、 (略) 理、HPHT合成、CVD合成钻石等区分、>0. * K厘石批量裸石快速排查、镶嵌碎钻检测等)、蓝宝石、红珊瑚、翡翠、绿松石、青金石、黄色绿柱石、托帕石、琥珀、蜜蜡(辐照与天然之分)、祖母绿(天然与合成) (略) 鉴定; |
1. * 可对任意形 (略) 快速无损测量;可对翡 (略) 测量; (略) 钻石比色石筛选;可测量钻石颜色参考等级。 |
▲1. * 可自动捕捉钻石磷光光谱。 |
1. * 软件:开放式数据库,带常规珠宝数据;中、英文、繁体版自由转换。 |
2 | 光致发光光谱仪 | 1、测量对象:Ia,IIa型钻石、CVD合成钻石、HPHT合成钻石、Ib型黄色钻石,彩钻、成品、裸石均可测量; |
2、测量速度:小于1秒; |
3、波长范围: *** nm |
4、信噪比: * :1 |
5、滤光片激光截止深度OD3; |
6、激光功率稳定性≤ 2% RMS (@2hrs); |
7、摄像头 * 万像素彩色摄像头; |
8、视场φ * mm |
9、最小测试样品:0. * ct; |
* 、激发光波长: * nm |
* 、光源寿命: * h; |
* 、测试环境:常温; |
* 、仪器重量:5kg |
3 | 激光拉曼光谱仪 | * 、主机 1.1、本显微激光共焦拉曼光谱仪主要用于各种钻石/彩宝/无机及有机材料的鉴定。该系统能够在紫外到近红外的光谱范围内测量物质的拉曼光谱,应具有超高灵敏度、分辨率和重复性;共焦显微功能应保证高空间分辨率。仪器具有较高整体性和稳定性,具有较高的自动化程度,操作方便、扩展灵活。包括多波长激光光源、高分辨率光栅、研究级显微镜系统、软件及数据库系统和计算机系统等。 |
1.2、本仪器必须将来具备下列功能扩展能力,而无需对现有拉曼光谱仪做任何改造: 1).与扫描电镜(电子探针,能谱,阴极荧光)联用 (SEM / RAMAN)。 2).与原子力显微镜/近场光学显微镜联用(RAMAN / AFM / NSOM)。 3).与激光共焦扫描显微镜联用(RAMAN/LCSM)。 4).与X射线光电子能谱联用(RAMAN/XPS)。 5).可升级到紫外(大于等于 * nm)或红外波段(小于等于 * nm)的更多激发波长。 |
* 、激光器 2.1、激光功率: * nm激发波长,激光器功率不低于 * mW, * nm激发波长,激光器功率不低于 * mW。 |
2.2、各波长均使用两片Edge瑞利滤光片和 * 片用于去除等离子线的干涉滤光片,仪器阻挡激光瑞利散射水平好于 * 。检验标准:使用表面抛光的单晶硅做样品,任意激发,同时观测激光线和硅拉曼峰( * cm-1),位于0 cm-1的激光线强度不得大于硅的 * cm-1 强度的3倍,X * 或X * 倍物镜,狭缝大小为正常实验状态。 |
▲2.3、不同激发波长采用独立的,按波长独立优化的自由空间激光入射光路,以保证每个波长均有最优的通光效率,避免互相影响。 切换波长时,激光光路采用计算机控制全自动切换。 |
▲2.4、各个波长均配有激光扩束器,使激光光斑尺寸连续可调,并能连续改变到样品上的激光功率密度,以方便信号弱且怕烧样品的检测。( (略) 家官方盖章的证明材料,同时提供图片证明,否则视为负偏离) |
2.5、使用激光等离子滤光片(干涉滤光片),在拉曼全谱扫描范围内,无等离子线。检验条件: * %激光功率照在抛光的单晶硅表面,曝光时间 * 秒,累加次数3次, X * 或X * 倍物镜,狭缝大小为正常实验状态。 |
2.6、计算机控制激光多级衰减片,> * 级,以方便针对不同样品调整激光功率。 |
* 、光谱仪 3.1、光谱仪设计:无像散,单级光谱仪,系统总通光效率大于 * % |
▲3.2、高灵敏度:硅 * 阶峰(约在 * cm-1)的信噪比≥ * :1,并能观察到 * 阶峰。检测条件:使用单晶硅片,波长 * nm,激光到达样品功率 * mW,狭缝宽度(或针孔)≤ * 微米,需使用≥ * 线高分辨光栅,曝光时间 * 秒,累加次数3次(或曝光时间 * 秒,累加次数5次),binning等于1,显微镜头为x * 或x * 倍 |
3.3、光谱范围: * nm 到 * nm,全光谱范围内可快速连续扫描,无接谱。其中: ? * nm激发波长,光谱范围: *** cm-1; ? * nm激发波长,光谱范围: *** cm-1。 |
3.4、不同波长瑞利滤光片需自动切换,采用 * 点精确定位技术,转台需采用光栅尺反馈控制系统,确保精度和重复性。 |
▲3.5、光谱分辨率:≤1 cm-1。检验标准:使用氖灯作为信号源,≥ * 线高分辨光栅,测试 * 6ABScm-1发光线,其半高全宽小于等于1波数(FWHM≤1cm-1)。 |
3.6、光栅使用 * (NIR)、 * (Vis)、刻线/毫米高分辨率光栅,并能软件控制自动转换。并能实现光栅连续转动的全谱扫描方式,保证高分辨率下的无接谱。 |
▲3.7、光谱重复性:≤ ±0. * cm-1(静态取谱),≤ ±0. * cm-1(光栅大范围转动)。采用光栅尺反馈控制系统控制光栅的精确定位和重复性。检验标准:使用表面抛光的单晶硅做样品,采用 * ×物镜,≥ * 刻线/毫米光栅,扫描范围 * ~ * cm-1,重复 * 次。( (略) 家官方盖章的证明材料,否则视为负偏离) |
3.8、切换不同的激发波长可自动聚焦透镜组,保证每个透镜 * %以上的拉曼信号透过率。 |
3./9、CCD探测器:应使用紫外和近红外同时增强深耗散层型CCD探测器,优质芯片,半导体制冷到- * oC。为确保成像速度,最短积分时间0. * 秒。 |
* 、智能控制功能 4.1、切换波长时采用计算机控制全自动切换激光器、滤光片、光栅等光学元件并自动准直。 |
4.2、自动准直激光到样品的激发光路、样品至探测器的拉曼信号传递光路。 |
4.3、自动定期仪器状态校准、并自动调节准直光路,保证仪器最佳性能状态;厂家工程师在必要时 (略) 实现远程自动调整及优化。 |
4.4、自动拉曼信号强度校正功能:内置标准白光光源,软件自动校准拉曼光强度,消除不同波长信号的响应差异。 |
4.5、自动波长校准功能:内置标准氖灯光源,自动实现全光谱自动校准,保证光谱峰位准确度。 |
4.6、拉曼信号采集模式与白光照明模式自动切换。 |
* 、共焦技术 5.1、采用新型数字化针孔真共焦显微技术(数字化控制狭缝和CCD区域),以避免仪器的不稳定性和复杂的光路调整。 |
5.2、软件控制自动调整狭缝大小,在 * - * um范围内连续可调。 |
▲5.3、空间分辨率:在x * 倍镜头下,使用 * nm激发波长测试单晶硅片,横向分辨率≤0.4微米 ,光轴方向纵向分辨率≤1.5微米,共焦深度连续可调。 |
* 、共焦显微镜 6.1、高稳定性研究级进口徕卡原装显微镜。 |
6.2、 * X原装目镜,5X、 * X、 * X、 * X长焦物镜 |
6.3、 (略) 家原装透射和反射柯勒照明。 |
6.4、彩色摄像头,可安全观察紫外、可见、近红外光斑,可在计算机上显示存储图像。 |
* 、计算机与打印机 性能好于Intel i7以上机型,8G RAM, * GB 硬盘,CD-RW刻录机, (略) 卡, * 英寸液晶显示器, Windows 7 操作系统,可观察和存储显微镜下的白光像。Windows下光谱专业软件包-包括仪器控制、数据采集、 (略) 理及曲线拟合等各项功能。彩色激光打印机 |
* 、数据库和软件包 8.1、数据库 具有谱库检索和建库功能,能够完成单 * 组分和混合物样品的谱库搜索。可根据使用者需求自助建立数据库,并能实时添加和删除光谱。并提供无机物、有机物高分子、RRUFF矿物数据库。 |
8.2、全套软件包 Windows下光谱专业软件包:包括仪器控制、数据采集、 (略) 理分析等各项功能。 ?仪器控制:可完成自动光路调节及校准。 ?数据采集:包括单张光谱采集、各种模式的拉曼成像数据采集、时间序列及长 (略) 程序测试。 ? (略) 理分析:包括单张光谱分析(包括但不限于自动扣除背底、曲线拟合、去除宇宙射线、数据计算、标注谱峰等等);多张数据的 (略) 理;成像数据分析(包括但不限于整体去除宇宙射线、 (略) 理、某种谱峰参数成像、成像数据计算、比例成像、不同组分分布成像、以及相应的定量/半定量分析等等)。 |
* 、附件 9.1、配置带光栅尺反馈控制系统的xyz * 维自动平台,包括: ①XYZ自动平台, 扫描范围:X ≥ * 毫米 ,Y ≥ * 毫米。 ②最小步长为0. * 微米。 ③带手动操作杆,可软件自动控制驱动。 ④可 (略) 位自 (略) 拉曼成像,进行分散的多点、线、面扫描和共焦深度的扫描成像。 ⑤采用光栅尺反馈控制系统自动控制克服反向间隙,保证原始点的重复性。 ⑥用软件可连接摄像头采集图像,扩展了 (略) ,也可使自动平台的扫描区域扩大。 ⑦包括Z轴自动聚焦硬件及软件。 |
十、大面积(大体积)超快速扫描成像附件 * .1、快速实时拉曼成像,适用于多种激发波长。 |
* .2、点光斑模式,保持高空间分辨率。 |
* .3、多变量化学计量学统计数据分析软件包。 |
* .4、具备超快拉曼/PL成像功能,扫描速度≥ * 张光谱/秒。 |
* .5、具备预扫描功能,对倾斜弯 (略) 自动聚焦扫描成像。 |
* .6、实现样品的 * 维实体(不同深度)的拉曼扫描成像,重构 * 维立体分布。 |
* .7、能实现样品的 * 维实体(不同深度)拉曼扫描成像(3D mapping)。 |
十 * 、激光实时聚焦成像系统 * .1、非采用白光预扫描模式,具备精确的激光实时聚焦功能,包括样品观察模式,单点拉曼测试模式及快速拉曼扫描成像模式。 |
▲ * .2、对于高度动态变化的样品,可实现激光实时动态聚焦及拉曼实时原位测试。( (略) 家官方盖章证明材料,否则视为负偏离) |
* .3、不同激发波长均采用测试拉曼的本源激光做实时测距反馈,无色差。 |
* .4、通过专用激光束分光系统,配合自动平台实时完成超快自动聚焦,自动聚焦响应速度≤1ms,且自动聚焦系统与拉曼测试相互独立, (略) ,无需预先定位。 |
* .5、测试拉曼传递样品化学结构信息的同时得到样品的形貌信息,可实时记录样品的不平整、弯曲及粗糙程度。 |
* .6、实时自动聚焦范围只受自 (略) 程限制,X≥ * 毫米,Y≥ * 毫米,Z≥ * 毫米。 |
十 * 、灵活 * 维扫描臂 * .1、可实现水平光路和垂直光路拉曼测试。 |
▲ * .2、通过 XYZ自动平台控制灵活 * 维扫描臂精确移动,实现样品保持不移动的高精度原位拉曼/PL成像,扫描范围可达厘米级别。( (略) 家官方盖章证明材料,否则视为负偏离) |
* .3、可兼容高空间分辨快速扫描拉曼成像,及激光实时聚焦成像技术,适合表面不平整样品和动态样品的实时聚焦测试及快速成像。 |
* .4、适用于大型且不易移动的样品或体系,如低温装置或反应釜等原位装置。 |
十 * 、相关工作条件: ①电源电压 * V ②环境温度 * — * ℃ ③相对湿度≤ * % |
4 | * nm紫外激光器 | 1、激光器 ▲1.1、激光器输出波长 * nm,激光功率不低于 * mw |
1.2、可用于 * nm激光器的 * 点机械定位底板,确保出光口与拉曼显微光谱仪主机高度吻合。 |
1.3、 * nm等离子体滤光片,确保激光的单色性。检验标准: * %激光功率照在抛光的单晶硅表面,曝光时间 * 秒,累加次数3次, X * 或X * 倍物镜,狭缝大小为正常实验状态。 |
1.4、 * nm激光配套反射镜组及扩束器:使激光光斑尺寸在焦平面上连续可调,并能连续改变到样品上的激光功率密度,以方便信号弱且怕烧样品的检测。 |
1.5、软件控制自动准直激光到拉曼显微光谱仪的激发光路。 |
1.6、 * nm滤光片组,使用两片Edge瑞利滤光片,仪器阻挡激光瑞利散射水平好于 * 。检验标准:使用表面抛光的单晶硅做样品,任意波长激发,同时观测激光线和硅光谱峰( * cm-1),位于0 cm-1的激光线强度不得大于硅的 * cm-1 强度的3倍,X * 或X * 倍物镜,狭缝大小为正常实验状态。 |
1.7、滤光片组可装配于拉曼显微光谱仪内,采用 * 点精确定位技术,不同波长瑞利滤光片可自动切换,需采用光栅尺反馈控制系统,确保精度和重复性。光谱范围: *** cm-1 |
1.8、配套光栅使用 * (UV)刻线/毫米高性能光栅,可装配于拉曼显微光谱仪光栅转台上,并能软件控制自动转换,实现光栅连续转动的全谱扫描方式,保证高分辨率下的无接谱。 |
1.9、配套 * X和 * X紫外镜头,保证紫外波段的高光通量。 |
5 | X射线荧光光谱仪 | ( (略) 业的内置专用分析测量软件:含 Au Ag Pt和Pd 4种校准分析工作曲线) |
(1)测定原理:X射线荧光分析法 |
(2)测定方法:能量色散型 |
(3)测定对象:固定,液体,粉末,各类金属,非金属,珠宝,金银铂钯,塑胶,油墨等 |
(4)测定范围: * Na— * U |
▲(5)下照式设计 |
2、 (略) : (1)X射线管:Rh铑靶,对贵金属Au及Pt的L线有最佳的激发。可以有限降低周边材质对其影响,轻松定位微小异物。 |
(2)功率: * W |
(3)电压:4— * kV,每1KV * 档设置,可根据元素的序数位置选择适合的激发电压。 |
(4)电流:1—1, * μA |
(5)冷却方式:风冷 |
▲(6)照射面积:配备直径1mm、3mm、5mm、 * mm * 个规格可任意自动切换,可以根据样品形状选择最适合的的照射直径;(进口产品,需 (略) 截图和链接证明;国内产品,需 (略) 截图及链接证明;否则视为负偏离) |
(7)滤光片:5种+OPEN空白滤光片设计,可以用于消除分析干扰,应对不 (略) 高灵敏度分析。 |
(8)仪器工作时, * 周X射线泄漏量小于1μsv/h(国际标准), (略) 的进口豁免证书。 |
3、检测器: ▲(1)探测器分辨率:实测分辨率优于 * eV |
(2)类型:采用高性能的SDD固体检测器,确保硬件更佳化, (略) 未有的高灵敏度、高速分析和高能量分辨率,分辨率优于 * ev。由高压电源、多种滤光片及准直器、SDD固体检测器、前置放大器, (略) 理器,分析软件和计算机系统组成,全自动仪器自检和控制系统,仪器各工作点自动监控和实时显示。 |
(3)制冷方式:电子制冷, (略) 费用 |
(4)计数方式:数字 (略) 理 |
(5)光管控制:分析样品时自动开启和关闭。具有X光互锁机构,在意外打开测试仓时,仪器将自动关断射线,绝对保证操作人员安全。 |
4、样品室: ▲(1)测定环境: ①大气,正常测试条件 ②预留真空接口 |
(2)样品观察:设备采用真彩色CMOS摄像系统,可调节亮度,对比度和缩放;下照式设计,更快更准的用于定位分析点以及检测微小样品,分析点的照片可截屏,报告中会粘贴测定开始时自动保存的样品图像,所以可以确认 (略) 位。出具报告时可以粘贴在报告中。 |
(3)具有超大样品室,可无破坏地完成超大样品的分析,样品室的的尺寸不小于 * × * × * mm(长×宽×高),同时可完成超小样品1mm样品的分析。 |
5、软件: (1)筛选分析:简单操作软件,可对 (略) 筛选,除Pb.Cd之外的元素,如Cr、Hg、Br、As、Sb等,能精确到ppm级,主元素含量、有害物质含量能同时检测和显示 |
(2)定性-定量分析:能定性分析样品中的元素种类,定量分析元素的含量,测定&解析软件,基本参数FP法,可提供全元素分析,测量精度高。通过定性分析可对 (略) 辅助测试判断。另外可提供EDX鉴别天然珍珠和海水珍珠、绿松石是否染、红蓝宝是否是天然、贵金属镀层厚度等 * 些珠宝检测应用的测试方法。 |
▲(3)定量分析:包括定量分析工作曲线法,共存元素校正、专利的FP法(Fundamental Parameter (FP) Method)、专利的背景FP法(Background FP Method)等。 (进口产品,需提供带专利的FP法和背景FP法专利 (略) 截图及链接地址作为证明;国内产品,需提供带专利的FP法和背景FP法专利 (略) 截图及链接地址或专利证书作为证明,否则视为负偏离) |
▲(4)有害物质筛选分析和元素定量分析/定性-定量在同 * 个软件,只需使用 * 个操作软件,即可完成样品的成分分析、有害元素分析 |
▲(5)自动缩短时间功能:在做有害物质筛选分析时,如果在检测过程中就得知某有害物质元素的含量明显较高或者较低,将自动转到下 * 分析通道,从而节省时间,实现高效筛选 (进口产品,需 (略) 截图和链接作为证明;国内产品,需 (略) 截图及链接地址作为证明;否则视为负偏离) |
(6)匹配功能:将测定结果与保存的谱库比较,自动排列出最接近的物质 |
(7)软件加密功能:在软件中可设置密码,条件设定/修改仅限于输入正确密码的操作者 |
(8)制作报告和表格功能:测试结果可导出或保存为各种格式的报告和EXCEL表格, |
▲(9)配置自动设定平衡功能:样品主成分为C、H、O等时,软 (略) 平衡设定。(进口产品,需 (略) 截图和链接作为证明;国内产品,需 (略) 截图及链接地址作为证明;否则视为负偏离) |
( * )自校功能: 铝合金校准样块:用于日常的能量校正和峰位校正峰位校正,软件会自动调节仪器参数,保证仪器性能的稳定 有害元素校准样块:测试有害物质时校准用,含Pb、Cd、Cr、Hg、Br等多种有害元素的塑胶块 |
( * )自动老化功能:仪器长期放置不使用再次启动时,仪器会 (略) (略) 理,防止由于光管异常放电导致的仪器故障,可有效延长仪器的使用寿命。 |
( * )环保节能功能: (略) 测量时,仪器会自动降低X光管功率,自动转入休眠节能模式。 |
( * ) 功能齐全( * 机多用): a.内置专业贵金属分析测量软件:含 Au Ag Pt和Pd 4种校准分析工作曲线, (略) 标定,建立相应的贵金属测量曲线,更适合于贵金属检测 b.有害元素分析软件:有害元素和成分含量可同时显示,且只需 * 个软件即可完成 c.镀层厚度分析软件,能同时显示元素含量、有害物质含量和镀层厚度 d.宝玉石定性分析:能分析Na,Mg,Al,Si,K,Ca等宝石中的微量元素,能对绿松石、珍珠、红蓝 (略) 定性分析 |
( * ) (略) 使用金银铂钯4套标样标定工作曲线,提高仪器测量的准确度,整个培训持续3-4天,包括建立曲线,给用户培训基本原理、操作、如何检测贵金属、有害元素、镀层厚度、宝石定性, (略) 测试,注意事项 |
( * ) 仪器提供稳定性测试报告,仪器性能报告, (略) 于正常状态 |
( * ) 软件为中文界面,也可选择英文界面 |
▲( * ) 有害元素预警功能,贵金属成分测量和有害元素分析采用同 * 条件同步分析,在显示贵金属成分时,能同时显示有害物质的含量,起到预警作用。 |
( * )测试结果自动保存,无需手动存,能将样品图谱的指定区域放大或缩小,能 (略) 叠加对比, (略) 峰标记,拟合, (略) 理,背景计算,峰捕捉,强度计算,定量计算等操作 |
7、 (略) 理系统: (1)专用电脑主机 (2)液晶显示器 (3)专用打印机 |
8、另标配净化稳压电源 |
6 | 钻石确认仪 | 1、检测范围:0.1- * 克拉,镶嵌钻石和未镶嵌钻石; |
2、功能:鉴别天然钻石,使之与合成钻石和仿钻区分开来; |
3、适用于无色或几乎无色的钻石 |
4、测试天然钻石通过率: * %以上 |
5、测试时间:单粒样品 * 秒以内 |
6、测试方法:探针测试,探针直径不大于2mm; |
7、体积小巧、便携 |
8、自动探测功能-意味着钻石与探头接触时自动显示测量结果,无需手动按测量开关。 |
9、仪器光纤探头可收缩,方便测量镶嵌首饰。 |
▲ * 、自带校准臂对仪器校正 |
* 、长、宽、高尺寸: * cm* * cm* * cm |
* 、仪器净重:不大于1.5公斤 |
▲ * 、带中文版常见故障解决手册(提供仪器常见报错解决方 (略) 内容截图,否则视为负偏离) |
7 | 宝石包体显微镜 | ▲1.双目ZEISS镜头,目镜: * X,连续变焦光学镜头,变倍范围: * X— * X;目距调节范围: * - * mm;工作距离: * mm。 |
2.镜臂最大可倾斜 * 度角,人体学设计,带来更加舒适的操作体验;镜臂调焦结构稳固,调节精确, (略) (略) 调整,保证长年使用过程中仍然保持良好状态 |
3. 底光源采用单LED灯泡,光强相当于 * W 卤素灯泡, * K色温自然白光,用于观察钻石和彩色宝石。底光源亮度可调,同时保持光源色温不变,工作寿命长达 * 年;通过旋钮可调节明暗域,根据不同 (略) 切换,同时可配备扩散片,配合暗域照射时使用,使得光线更为柔和。 |
▲4.独特的光纤顶光源,两种灯头可更换,根据不同的 (略) 快速切换使用; |
5.独有的散热设计,使得底光源工作区域的温度保持在 * °C,由此获得更加舒适的操作环境,避免出现其它品牌显微镜工作温度高达 * °C 的情况。 |
6. 独有的可取卸锁光圈,精密高效的设计便于几何光学控制,控制杆可以移动方便左右手使用,整个光圈可取卸也可更换成其它附件或其它光圈。 |
7. 独特的暗域焦点设计,底光焦点在锁光圈平面之上,使得手指操作的镶嵌宝石快速显微观察变得简单 |
8.磁力球宝石夹,安装简便稳固,左右各 * 个宝石夹磁力球座,适合左右手操作,可任意角度度旋转,从各个方位观测宝石 |
9.底座可 * °旋转,人性化设计,电源线可独立旋转至各个方向使用,直径: * mm ,重量:9kg |
8 | 钻石比色灯 | 1、2个 * W双管灯 |
2、 *** nm 连续谱光源 |
3、色温 * K- * K |
4、光源含紫外线成分极少(UV STOP) |
5、光源带镜面反射器,保持色温稳定 |
6、 * 维可调式 |
9 | 宝石显微镜 | 1.金属银体色的现代时尚感外形设计 |
2. (略) 业设计,配有优质的变焦镜头、载物台、准焦臂和底座 |
3.高级消色差立体变焦镜头,连续变倍,变倍范围: * X‐ * X |
4.物镜放大倍数范围:0. * X‐4.5X;目镜放大倍数: * X |
5.目距调节范围: * - * mm;工作距离: * mm |
6.镜臂最大可倾斜 * 度角,人体学设计,带来更加舒适的操作体验;镜臂调焦结构稳固,调节精确 |
7. * 种照明方式:暗域、亮域、顶光与侧光。顶光采用LED白光,侧光采用可拆卸的硬管光纤,灯头位置可聚光,底光为色温可调的卤素灯。测光照明与底光为同 * 光源。 |
8.独有的散热设计,底光与载物台之间设有 * 段亮度可调的卤素环形灯管,使得底光源工作区域的温度保持在 * °C,由此获得更加舒适的操作环境,避免出现其它品牌显微镜工作温度高达 * °C 的情况;同时让明暗域观察的可操作性更强。 |
9.独有的可取卸锁光圈,精密高效的设计便于几何光学控制,控制杆可以移动方便左右手使用,整个光圈可取卸也可更换成其它附件或其它光圈 |
* .独特的暗域焦点设计,底光焦点在锁光圈平面之上,使得手指操作的镶嵌宝石快速显微观察变得简单 |
* .专利的磁力球宝石夹,安装简便稳固,左右各 * 个宝石夹磁力球座,适合左右手操作,可任意角度旋转,从各个方位观测宝石 |
* .底座可 * °旋转,人性化设计 |
* .尺寸: * x * x * mm ,重量:5kg |
* .通用输入电压: * V‐ * V |
* .专用配件:专利的新型磁性球宝石夹座及宝石夹,护目镜,防尘罩,铝制运输箱 |